Поиск по статьям
Все про умный дом
Все о пожарной безопасности
Сейчас читают
- Как смотреть youtube без тормозов и замедленияЕсли Вы на этой странице, то Вам, скорее всего, […]
- 10 лучших прогрессивных языков программирования для разработки мобильных приложенийЗнаете ли вы, что мобильные приложения — это не только […]
- 6 важных особенностей, которые следует учитывать при строительстве нового домаСтроительство нового дома – это уникальная возможность […]
Гороскоп на Сегодня
Что такое лазерный микроскоп для анализа формы?
Лазерный микроскоп для анализа формы — это микроскоп, который использует лазерный луч для измерения рельефа поверхности объекта.
Некоторые микроскопы обладают той же функциональностью, но используют контактный зонд, такой как кантилевер, который касается поверхности и может повредить или поцарапать образец. С другой стороны, лазерные микроскопы для анализа формы используют отражение света, что позволяет проводить бесконтактный осмотр.
Хотя оптическая система такая же, как у типичного конфокального лазерного микроскопа, доступно много продуктов, которые используют высокоскоростной MEMS-сканер или резонансный сканер для получения трехмерной информации, тем самым сокращая время сканирования.
Применение лазерных микроскопов для анализа формы
Лазерные микроскопы для анализа формы используются для проверки различных продуктов и поиска проблем. В частности, они часто используются для полупроводниковых компонентов и печатных плат, поскольку сами компоненты очень малы и имеют сложную структуру поверхности, что позволяет проводить бесконтактный, неразрушающий контроль.
Использование безпроблемного продукта в качестве эталона и наложение его на изображение проверяемой детали позволяет быстро обнаруживать проблемные области. Кроме того, поскольку он бесконтактный, его можно использовать для мягких образцов, и не требуется специальной предварительной обработки, поэтому его также используют для проверки пищевых продуктов.
Принцип работы лазерных микроскопов для анализа формы
Микроскоп получает информацию о форме поверхности, испуская лазерный луч и определяя его отраженный свет.
1. Форма 2D
Поскольку интенсивность света ослабевает пропорционально квадрату расстояния, мониторинг интенсивности отраженного света покажет расстояние до поверхности. В этом случае, если вводится свет от объекта, находящегося вне фокуса, увеличение или уменьшение отраженного света будет усреднено, что снизит чувствительность.
Чтобы предотвратить это, микроскоп использует конфокальную оптику с точечными отверстиями в сопряженной фокальной плоскости, чтобы отсекать избыточный свет из нефокальной плоскости. Таким образом, информация о расстоянии до поверхности точно получается как двумерная информация путем сканирования лазером в направлениях X и Y.
2. Трехмерная форма
Кроме того, сканируя объективную линзу в направлении Z, можно выполнить трехмерный анализ формы 3D. Пространственное разрешение в плоскостном направлении зависит от длины волны лазера в соответствии с законом Аббе, как и в общей оптической микроскопии.
Поэтому, если нет проблем с образцом, для измерения с высоким разрешением можно использовать ближний ультрафиолетовый лазер с более короткой длиной волны, например 405 нм.
Дополнительная информация о лазерном микроскопе для анализа формы
1. Процедура измерения с использованием лазерного микроскопа
Существует три основные категории микроскопов: оптические микроскопы, электронные микроскопы и сканирующие зондовые микроскопы. Лазерная микроскопия — это тип оптического микроскопа.
Процедура от лазерного облучения до отображения изображения в лазерном микроскопе состоит из следующих шести этапов:
- В качестве источника света используется лазер.
- Лазер проходит через объектив и сканирует измеряемый объект.
- Отраженный свет от объекта измерения снова падает на объектив.
- Полукруглое зеркало изменяет путь отраженного света к детектору.
- Отверстие в месте формирования изображения устраняет рассеянный свет.
- Лазер, падающий на детектор, отображается в виде трехмерного изображения путем обработки изображения с использованием усилителя и т. д.
2. Шероховатость поверхности с помощью лазерной микроскопии
Шероховатость поверхности в лазерной микроскопии является мерой неровности обработанной поверхности детали. Шероховатость поверхности представляет собой циклическую форму, состоящую из ряда пиков и впадин различной высоты, глубины и плотности (расстояния).
Шероховатость поверхности изменяет ощущение и текстуру поверхности. Чем больше шероховатость поверхности, тем грубее поверхность на ощупь и тем меньше отражается света. С другой стороны, поверхность с небольшой шероховатостью поверхности гладкая и интенсивно отражает свет, как зеркало.
Сегодня текстура и ощущение продукта считаются важными, а шероховатость является важным показателем для контроля качества внешнего вида. Показатели шероховатости поверхности включают среднеарифметическую шероховатость (Ra) с использованием средних значений и максимальную высоту (Rz) с использованием суммы пиков и впадин.